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ZETA電位分析儀的操作流程與注意事項(xiàng)
ZETA電位分析儀的操作流程與注意事項(xiàng)如下:操作流程:樣品準(zhǔn)備:選擇適當(dāng)?shù)臉悠愤M(jìn)行測(cè)試,并根據(jù)需要將其稀釋到適當(dāng)?shù)臐舛?。確保樣品溶液均勻混合,并盡量避免產(chǎn)生氣泡或顆粒物。儀器設(shè)置:按照Z(yǔ)eta電位分析儀的說(shuō)明書(shū),正確設(shè)置儀器參數(shù)。這包括電解池的尺寸、電極類型、溫度和測(cè)量范圍等。確保所有的設(shè)置都與實(shí)際情況相符。校準(zhǔn)儀器:在開(kāi)始實(shí)際測(cè)試之前,應(yīng)該進(jìn)行儀器的校準(zhǔn)。......
ZETA電位分析儀原理是通過(guò)激光多普勒測(cè)速技術(shù)對(duì)顆粒的電泳遷移率進(jìn)行測(cè)試,然后運(yùn)用所測(cè)的電泳遷移率及Henry函數(shù)進(jìn)行計(jì)算得到Zeta電位的。當(dāng)激光光束照射在固定電場(chǎng)作用下產(chǎn)生定向運(yùn)動(dòng)的帶電粒子時(shí),根據(jù)多普勒效應(yīng),粒子產(chǎn)生的散射光頻率將會(huì)有微小的變化。利用光學(xué)相干技術(shù),就能夠使散射光頻率變化轉(zhuǎn)換為光強(qiáng)的波動(dòng)變化,接著由......
激光粒度儀主要適用于微米級(jí)顆粒的測(cè)試,經(jīng)過(guò)改進(jìn)也可將測(cè)量下限擴(kuò)展到幾十納米。在粒度測(cè)試前樣品的準(zhǔn)備是很重要的,測(cè)量中遇到的多數(shù)問(wèn)題是由樣品準(zhǔn)備不充分引起的,比如樣品結(jié)塊、溶解、浮在表面或沒(méi)得到典型樣品,結(jié)果就會(huì)出現(xiàn)錯(cuò)誤。因此要找到有效的方法來(lái)確保樣品充分準(zhǔn)備。一旦找到了合適的分散技術(shù),那么就要規(guī)范程序,以便對(duì)兩種樣品進(jìn)......
高壓乳化設(shè)備是高性能產(chǎn)品。具有混合、攪拌、乳化功能,應(yīng)用于工廠、科研機(jī)構(gòu)、大專院校和醫(yī)學(xué)單位等實(shí)驗(yàn)的液體中物料的混合、攪拌、乳化。乳化機(jī)在生物、醫(yī)藥、理化、化妝品、保健品、食品等產(chǎn)品開(kāi)發(fā)、實(shí)驗(yàn)等領(lǐng)域已經(jīng)得到廣泛的應(yīng)用。高壓乳化設(shè)備工作原理:機(jī)器的攪拌頭的轉(zhuǎn)子在電機(jī)的高速驅(qū)動(dòng)下,產(chǎn)生旋轉(zhuǎn)高線速度,配合精密的轉(zhuǎn)子和定子在巨......
粒度分析又可以稱作“機(jī)械分析”。是研究碎屑沉積物(或巖石)中各種粒度的百分含量以及粒度分布的一種方法。針對(duì)易于分解離開(kāi)的碎屑沉積。起初用來(lái)測(cè)量粒度的設(shè)備就是標(biāo)準(zhǔn)篩,但是它只能測(cè)量一個(gè)或者幾個(gè)粒徑點(diǎn)上的篩余量,不能得到詳細(xì)的粒度分布;而且測(cè)試的勞動(dòng)強(qiáng)度大、精度低。后來(lái)就發(fā)展到了用沉降式粒度儀測(cè)量,它雖然可以測(cè)得詳細(xì)的粒度......
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